bigwavek가 사는법

갑자기 A 접점과 B 접접이 생각이 안난다.. ~~~

그래서 다시 정리 ~~

A 접점  : 평상시에 접점이 떨어져 있고 필요할때 붇는다 

B 접점 : 평상시에 붇어 있다가 필요할때 떨어진다. 

http://blog.naver.com/PostView.nhn?blogId=yoo001&logNo=10124438591&categoryNo=28&viewDate=&currentPage=1&listtype=0&from=postList

http://cpu.kongju.ac.kr/ezboard/db/data_file/upload/200409170000/FuseGuide.pdf

상용 EMI 필터 설명서

Emi 제거 방식에 따라 수많은 제품이 존재 하는데 대표 적인 메뉴얼을 올려봄

보드 제작시 파라미터 참고용으로 활용 할 예정임

CW4L2_EMI_filter.pdf

예) 20A 실 사진을 보니 Cx:0.1uF, Cy:3300pF, R: 1M (1/2W) , L : 0.5mH ,

DELTA__DR_EMI_filter.pdf

예) 20A -> Cx : 0.22uF , Cy : 3300pF , R: 2.2M , L : 1mH

특히 Delta_DR_EMI_filter 메뉴얼에 보면 50ohm 메칭 시스템에서 주파수별 죽일수 있는 신호의 세기를 볼수 있다.

이 값이 좋을수록 좋은듯 ..

NTC 관련

http://www.dscelec.co.kr/k-products-2.htm

TI 사이트

http://www.ti.com/ww/kr/article/09oct_num02.html

돌입전류에대한 여러규칙

http://blog.daum.net/yulee4u/247

요즘 핸드폰 충전기를 보면 아주작은데 전류도 크게 나오는 것을 볼수 있다.

그래서 비슷한 회로를 만들수 있을까 하고 검색하다가 사이트에서 재미난 자료를 찾았다.

http://powerelectronics.com/regulators/cutting-no-load-power-consumption-power-supplies-industrial-applications

PrimarySideSensingController.pdf

다른 사이트

http://www.bcdsemi.com/index.aspx?cat_id=28

좀 다른듯 하지만 AC/DC 모듈

http://www.mornsun-power.com/cn/product_info3.aspx?typeID=64

삼상 전력 계산 설명  :  http://blog.daum.net/gahna61/783

http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=760153&cid=614&categoryId=614

http://blog.daum.net/andk.co.kr/162

여기서 EMC시험이란 과연 무엇일까?

EMC(Electromagnetic Compatibility)시험이란 간단하게 말하면 전자파 적합성 시험으로, 전파실이라는 외부에 대한 영향을 주지 않는 규정된 장소에서 각종 전자파(혹은, 노이즈)에 대한 내성이나 제품이 발생하는 전자파가 다른 기기에 어떤 영향을 끼치는가 알아보는 시험이라 할 수 있다. 전자 기계는 이 시험에 통과하여야만 정식 출시 될 수 있으며, AND제품들은 A클래스의 높은 성적으로 EMC시험을 통과한 제품들이 대부분이다.

EMC시험은 크게 제품이 다른 기기에 어떤 영향을 주는지 알아보는 EMI (Electromagnetic Interference) 시험과 외부에 대한 영향에 제품이 버티는 내성에 대해 알아보는 EMC (Electromagnetic Susceptibility)로 나누어진다.

먼저, EMI시험에 대해 알아보면 측정하는 영향의 종류에 따라 RE, CE, Harmonic, Flicker로 나뉜다. 그 중, RE (Radiated Emission)는 방사(복사) 및 방출(간섭)에 의한 노이즈의 영향에 대해 알아보는 시험으로 전파실에서 안테나로 측정하는 시험이다. CE란 Conductive Emission로 전도 방출(간섭)에 대해 알아보는 시험이며, 전원 및 기타 선에서 나오는 노이즈를 전파실에서 안테나로 측정한다. Harmonic란 Harmonic Current Emission으로 고조파 방출[간섭] 시험으로, 전원에서 나오는 고조파 전류(특히, 전원주파수에 실리는 피크 전류)를 측정한다. 마지막으로 Flicker은 Flicker Noise으로 플리커 노이즈 방출[간섭]하는 것으로 즉, 기기가 과도한 전류를 일시적으로 구동 시, 주변기기의 전압들이 일시적으로 변동이 일어날 수 있는 노이즈 량을 측정하는 것이다.

외부에 대한 내성 측정인 EMS시험은 RS, CS, EFT/BURST, SURGE, ESD, VOLTAGE DIP, SHORT INTERRUPTION, POWER FREQUENCY MAGNETIC FIEID 이렇게 7종류로 나누어 볼 수 있다.

먼저, RS는 앞서 이야기한 RE와 비슷한 개념으로 Radiated Susceptibility, 방사(복사) 내성에 관한 시험이다. 시험방법은 전파실의 안테나에서 RF에너지를 발생시켜 기기의 반응을 검사한다. CS는 역시 앞서 이야기한 CS와 비슷한 개념으로 Conductive Susceptibility, 전도 내성에 관한 시험이다. 시험 방법은 전원 및 기타 선호 선으로 들어가는 노이즈에 따른 기기의 반응을 안테나를 이용하여 검사한다. 그 외 EFT/BURST(Electrical Fast Transient)는 전원 및 기타 선으로 들어가는 노이즈에 따른 기기 반응 검사이며, SURGE는 전원 및 기타 선으로 들어가는 노이즈(서지)에 따른 기기 반응 검사이다. ESD(Electrostatic Discharge)는 정전기검사이며, VOLTAGE DIP은 순간 전압 강하 시 기기 반응을 검사하는 시험이며, SHORT INTERRUPTION는 순간 정전 시 기기의 반응검사이다. 마지막으로 POWER FREQUENCY MAGNETIC FIEID는 상용전원주파수 자계 내성 시험으로, 기기에 큰 자장을 걸어 기기 반응 검사하는 시험이다.

시험 장소  : 한국 전기 전자 시험 연구원

http://www.keti.or.kr/kor/02_test/02_01_EMC.asp

www.elekorea.com_data_upload_phpFzDQXE_test0515.pdf

기획특집_201207_03_IPM.pdf

IPM사용법_H.docx